• 作者:羅於陵、鄭凱安
  • ISBN:957-619-093-2
  • 出版機構:行政院國家科學委員會科學技術資料中心
  • 出版年月:2003-10
  • 語言:中文
  • 折數:無折扣
  • 實體書定價:1,000元 / 折扣後價格:1,000

  • 關鍵字:專利分析 奈米科技 奈米科學 知識探索 資訊視覺化 自組映射圖 引證網路
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【內容簡介】


近年來,奈米科學與工程(NSE)及相關領域的成長突飛猛進。其驚人的發展速度與規模,使得研究人員不得不去瞭解它在不同實驗室、公司·產業和國家間的進展。本計劃針對NSE相關的美國專利文件,進行多頂分析與視覺化技術的實驗,以支持各種不同的知識任務( knowledge tasks)本報告為1976汗到2002年間的奈米科技專利基本分析·內容圖(content map)分析和引證網路(citation network)分析的結果。這些資料係針對個別的國家、機構和技術領域來作分析:奈米科技專利數量最多的前十名國家(地區)分別為美國,日本,法國,英國,台灣,韓國,荷蘭,瑞士,義大利和澳洲。最近五年成長最快的領域則是在化學和製藥業,其次便是半導體元件。這些結果證實了透過貢糊探索和視覺化技術,可運用大量的專利文件分析,來獲取有關奈米科技表現、知識轉移和發展趨勢方面的知識。

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