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試讀【內容簡介】
專利分析可找出知識發展之脈絡，並進一步預測及判斷整體技術與學術趨勢之未來走向。本報告之目的，在於運用 PATSTAT 專利資料庫，並進一步結合知識計量學之研究，包含三邊專利、PCT 專利、分類系統、專利引用非專利文獻等主題，有效進行專利知識統計趨勢之判斷與分析，透過對專利之內容、統計指標、資料庫以及可延續之研究議題，有一整體了解。此外，針對國家專利趨勢觀察各國技術發展與重點領域，並針對專利引用科學論文之整體情況，做一初探，以有效讓讀者可以針對包含專利國分析、專利技術分類分析、專利研究方法以及專利引用過程有一完整輪廓。本研究期望在未來，可以有效地透過專利資料庫之幫助，以提升本中心在科技政策智庫中所扮演之角色。
